QPt for DigitalMicrograph

QPt for DigitalMicrographは数値解析による位相コントラスト電子顕微鏡法を提供します。QPtはのTIE (Transport of Intensity Equation:強度輸送方程式)に基づき3枚の通常の明視野電子顕微鏡像から位相を求め、デフォーカス像に特有の擬像のない正焦点像を推定します。QPtは高速フーリエ変換(FFT)に基づくQuantitative Phase Imaging (QPI)技術を使用しています。

QPtは微小領域の磁場の観察などの中分解能から原子オーダーの高分解能観察まで幅広く適応が可能です。HREM moduleを用いれば原子分解能の複素波面より球面収差の影響を除去することができます。QPt Pro (32bit only)では光学顕微鏡で使用されている位相差法、微分干渉法、Hoffman Modulation Contrast、暗視野法などの結像法をコンピュータ内で実現可能です。

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