xHREMTM: 高分解能電子顕微鏡シミュレーションプログラム

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xHREMTM (WinHREMTM/MacHREMTM) はWindowsおよびMac OS上で動作する 高分解能電子顕微鏡のためのシミュレーションプログラムです。このプログラムは米国アリゾナ州立大学 において開発されたマルチスライス法による高分解能電子顕微鏡像のシミュレーションプログラムを基本 としています。現在、最も信頼のおける電子顕微鏡像シミュレーションプログラムの1つであります。 Intel社のMKL(Math Kernal Library)を使用して計算スピードの向上が図られています。

xHREMTM は透過型高分解能電子顕微鏡像のシミュレーションプログラムを基本に、収束電子線回折像 のシミュレーションや走査型高分解能電子顕微鏡像のシミュレーションのためのオプションが用意されています。 詳しくは以下のカタログをご覧下さい。

xHREMは現在高機能マシンでは標準となっているmulti-CPUがサポートされています。また、STEM、CBED拡張機能に加えシミュレーション本体の64-bit版もv3.9より提供を開始いたします。さらに、STEM拡張機能ではCluster版(32bitおよび64bit)も利用可能です。

また、STEM像のシミュレーションでは高精度補間によりv3.6以前のものに較べて計算時間を1/20に短縮可能です。すなわち、今まで一日かかっていた計算がわずか1時間で実行できます。STEM-HAADFの 計算を行われる方に特にお勧めします。

本バージョンでは非周期(非結晶)モデルを取り扱うためのユーザインターフェイスが実装されました。


カタログ
マニュアル(PDF形式)

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文献、技術資料
  • K. Ishizuka and N. Uyeda, A New Theoretical and Practical Approach to the Multislice Method, Acta Cryst. A33 (1977) 740.
  • K. Ishizuka, Contrast Transfer of Crystal Images in TEM, Ultramicroscopy 5 (1980) 55.
  • K. Ishizuka: A practical approach for STEM image simulation based on the FFT multislice method, Ultramicroscopy 90 (2001) 71-83.
  • K. Ishizuka, Multislice Formula for Inclined Illumination, Acta Cryst. A38 (1982) 773-779.
  • K. Ishizuka: Prospects of atomic resolution imaging with an aberration-corrected STEM, J. Electron Microsc. 50 (2001) 291-305.

高分解能電顕像のシミュレーションに関してよく聞かれる質問についてQ and A 形式で説明しています。
ライセンスプログラム、フリープログラムのダウンロード:
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